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普析 XRF6贵金属分析仪
RoHS/WEEE 指令元素快速分析; . 内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群; . 内置各类标准样品曲线数据库。
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AMPTEKX射线/X光硅漂移探测器XR-100SDD
XR-100SDD型X射线硅漂移探测器125eV的能量分辨率!采用电冷技术;无需液氮!图1. XR-100型硅漂移探测器及配套电源PX5 图2. 硅漂移探头元件示意图 XR-100SDD
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SDD硅漂移探测器
SDD探测器SDD探测器广泛的应用于XRF分析仪器制备,科学研究以及宇宙探索等诸多领域。按照产品的功能分类,SDD的探测器分为 VIAMP,VICO-DV, AXAS-A/D,AXAS-M、五个系列
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AMPTEK-超快型X射线/X光硅漂移探测器
下一代硅漂移探测器 (Next Generation SDD)超快型硅漂移探测器 (Super Fast SDD) 10倍通量 & 不损失任何分辨率 能量分辨率(FWHM,[eV])峰化时间(微秒
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Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用
Amptek FAST SDD™ C2 窗口针对SEM应用开发Amptek推出全新SDD探测器,针对电子显微镜能谱仪客户应用(EDS SEM)利用全新技术“C”系列X射线窗口(Si3N4),能够对
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牛津仪器X-MaxN硅漂移探测器
X-MaxN硅漂移探测器大面积传感器芯片,采用数字信号处理和创新封装技术,可以提供很高灵敏度,精确分析几乎所有类型的样品,包括易碎样品和纳米材料。
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牛津仪器X-Max TEM硅漂移探测器
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普析多晶X射线衍射仪 XD-6/7系列
普析多晶X射线衍射仪 XD-6/7系列XD6型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品在XD3基础上设计,测角仪扫描半径连续可调。该功能使得用户可以在仪器测角分辨率和测试衍射线强度之间
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普析XD2/3型多晶X射线衍射仪
普析XD2/3型多晶X射线衍射仪xD2/3型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品功能齐全,灵活适应各种物质微观结构的测试、分析和研究。产品采用了θ-θ测角仪立式、中空轴、射线管座与测
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Ultim Extreme 硅漂移探测器
Ultim Extreme 硅漂移探测器是高分辨率场发射扫描电镜应用的一个突破,可提供远远超越传统微米和纳米分析的解决方案。Ultim Extreme是Ultim Max系列中的一款无窗能谱,晶体
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